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亞微米粒徑檢測(cè)儀為實(shí)驗(yàn)室研究提供更好的分析技術(shù)

 更新時(shí)間:2016-12-10  點(diǎn)擊量:1985

  亞微米粒徑檢測(cè)儀為實(shí)驗(yàn)室研究提供更好的分析技術(shù)

  亞微米粒徑檢測(cè)儀是納米粒徑分析儀器,采用現(xiàn)在的動(dòng)態(tài)光散射原理,利用的Nicomp多峰算法可以很的分析比較復(fù)雜多組分混合樣品。亞微米粒徑檢測(cè)儀為實(shí)驗(yàn)室的研究提供的分析技術(shù)。 測(cè)試范圍:0.3 nm – 10μm。

  一、亞微米粒徑檢測(cè)儀產(chǎn)品介紹:

  380 N3000 亞微米粒徑檢測(cè)儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析顆粒系的粒度及粒度分布,粒徑檢測(cè)范圍 0.3 nm- 10μm。粒度分析復(fù)合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術(shù)的 Nicomp 多峰算法,亞微米粒徑檢測(cè)儀對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢(shì),其的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的。

  二、亞微米粒徑檢測(cè)儀工作原理:

  動(dòng)態(tài)光散射法(DLS),有時(shí)稱為準(zhǔn)彈性光散射法(QELS),亞微米粒徑檢測(cè)儀是一種成熟的非侵入技術(shù),可測(cè)量亞微細(xì)顆粒范圍內(nèi)的分子與顆粒的粒度及粒度分布,使用技術(shù),粒度可小于1nm。 動(dòng)態(tài)光散射法的典型應(yīng)用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的布朗運(yùn)動(dòng),造成散射光光強(qiáng)的波動(dòng)。亞微米粒徑檢測(cè)儀分析光強(qiáng)的波動(dòng)得到顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度,再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。

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